Центр коллективного пользования “Структурная диагностика материалов” Института кристаллографии имени А. В. Шубникова РАН (ЦКП ИК РАН)

Общие сведения

Центр коллективного пользования “Структурная диагностика материалов” Института кристаллографии имени А. В. Шубникова РАН (ЦКП ИК РАН) создан в 2002
году (приказ от 25 декабря 2002 г. №52).

Общая численность сотрудников ЦКП: 23 человека.
Положение о ЦКП утверждено 25 декабря 2002 г.

Контактная информация
Адрес: 119333, Москва, Ленинский проспект, дом 59
Телефон: (495) 135-10-20. E-mail: tsc@ns.crys.ras.ru
Интернет-сайт: http://ns.crys.ras.ru/tsc

Руководитель ЦКП
д.х.н., проф. Мчедлишвили Борис Викторович.
Телефон: (495)135-02-01; факс (495) 135-10-11.
E-mail:tracк@eimb.ru, mchedlishvili44@mail.ru.

Тематика исследований 

Исследования структурной диагностики материалов, разработка новых методов и аппаратуры для диагностики наноматериалов различной кристаллической структуры (включая композитные наноматериалы).

Научные достижения ЦКП за последние 3 года: 
- теоретически и экспериментально обоснована возможность создания лабораторного рентгеновского микротомографа с разрешением не менее 1 мкм и полем зрения ~1 мм при использовании увеличивающих рентгенооптических элементов;
- исследование структуры углеродных нанотрубок и полевых эмиттеров на их основе, разработка нового подхода к построению технологических систем на примере роста слоев неупорядоченных полупроводников.

Международная деятельность

Приборы и оборудование ЦКП ИК РАН используются для выполнения исследований и разработок, ведущихся в рамках около 20-ти соглашений ИК РАН с зарубежными научными организациями.

Методики

С 2003 по 2006 годы в ЦКП ИК РАН было разработано 19 « Методик калибровки» и 27 «Методик выполнения измерений». Все методики аттестованы и обеспечивают исследования в области нанодиагностики (структурной диагностики) материалов.

Оказываемые услуги

- Исследования методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии атомной структуры, морфологии и химического состава широкого класса материалов, значимых для различных областей фундаментальной и прикладной науки, включая полупроводниковое материаловедение, катализ, минералогию, и биологию;

- оперативный бесконтактный контроль наношероховатости гладких атомарных поверхностей методами атомносиловой микроскопии и рентгеновской дифрактометрии;

- электроно-дифракционное (на просвет) исследование и анализ атомной структуры и микроструктуры тонких пленок, поверхностных слоев, тонкодисперсных материалов, нанокристаллов и нанокомпозитов, наносистем органических и неорганических, аморфных и кристаллических материалов;

- анализ и изучение методами дифракции электронов «на отражение» структуры и микроструктуры, качества поверхности кристаллов и аморфных материалов;

- структурные исследования методами рентгеновской дифрактометрии белков, неорганических материалов, порошков;

- рентгеновские исследования реальной структуры кристаллов;

- рентгеновская томография биологических объектов;

- исследования методами оптической абсорбционной спектроскопии оптических характеристик, структуры и состава конденсированных материалов, в том числе параметров монокристаллов и изделий на их основе;

- измерение микротвердости материалов и вязкости разрушения; изучение деформационных изменений в твердых телах (монокристаллах, керамиках и сплавах).

Оборудование

1. Просвечивающий электронный микроскоп EM-430SJ (FEI, США) - 1987г. выпуска, стоимость - 1316151 руб. Имеется сертификат № 101 от 11.10.2004.
2. Растровый электронный микроскоп JSM-840 (JEOL, Япония) - 1984 г.выпуска, стоимость - 539140 руб. Имеется сертификат № 118 от 14.10.2004.
3. Растровый электронный микроскоп BS-340 (TESLA,Чехия)-1990 г. выпуска, стоимость-239250 руб. Имеется сертификат № 117 от 14.10.2004.
4. Электронограф регистрирующий ЭМР-102 (Selmi, Украина) - 1987 г. выпуска, стоимость - 173610 руб. Имеется сертификат № 104 12.10.2004.
5. Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 (NT МДТ, Россия) - 2001 г. выпуска, стоимость - 1278142 руб. Имеется сертификат №120 от 12.10.2004.
6. Автоматический четырехкружный дифрактометр с гелиевой приставкой HUBER 5042( HUBER Difracktions technik Gamburg, Германия) - 1999 г. выпуска, стоимость - 9012400 руб. Имеется сертификат № 106 от 5.10.2004.
7. Автоматический дифрактометр CAD-4 (Enraf-Nonius, Голландия) - 1984 г. выпуска, стоимость - 1316151 руб. Имеется сертификат № 107 от 5.10.2004.
8. Спектрофотометр инфракрасный Specord M40 (Carl-Zeiss, Германия) - 1989 г. выпуска, стоимость- 60968 руб.
9. Рентгеновский дифрактометр КАРД 6 (СКБ ИКРАН, Россия) - 2002 г. выпуска, стоимость - 421287 руб. Имеется сертификат № 112 от 11.10.2004.
10. Многокружный рентгеновский спектрометр ССВ (АССВ-1) (СКБ ИКРАН, Россия) - 1996 г. выпуска, стоимость - 118683 руб. Имеется сертификат № 116 от
14.10.2004.
11. ТРС-СКБ (трехкристалльный рентгеновский спектрометр ТРС-1) (СКБ ИКРАН, Россия) - 1981 г. выпуска, стоимость - 148385 руб. Имеется сертификат № 113 от 14.10.2004 о калибровке.
12. Малоугловой рентгеновский дифрактометр с позиционно-чувствительным детектором АМУР-К (СКБ ИК-РАН, Россия) - 1996г. выпуска, стоимость - 214100 руб.
Имеется сертификат № 108 от 14.10.2004.
13. Трехкристальный рентгеновский спектометр ТРС-К (СКБ ИКРАН. Россия) - 1989 г. выпуска, стоимость - 89717 руб. Имеется сертификат № 114 от 14.10.2004.
14. Высокоразрешающий сканирующий рефлектометр ВСР 100, включая: дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-УМ-1 (НПО “Буревестник”, Россия) - 1980- 2000 гг. выпуска, стоимость - 163781 руб. Имеется сертификат № 109 от 11.10.2004.
15. Рентгеновский дифрактометр ДОК (СКБ ИКРАН, Россия)-1984г. выпуска, стоимость - 141458 руб. Имеется сертификат № 110 от 11.10.2004
16.Дифрактометр на базе гониометра ДТС (СКБ ИКРАН, Россия) - 1996 г. выпуска, стоимость - 350148 руб. Имеется сертификат №111 от 11.10.2004.
17. Дифрактометр ДРШ(СКБ ИКРАН, Россия) - 2000 г. выпуска, стоимость - 799404 руб. Имеется сертификат №122 от 14.10.2004.
18. Микроскоп Карл Цейс Е2 (Карл Цейс Йена, Германия) - 2000 г. выпуска, стоимость - 35688 руб. Имеется сертификат №103 от 15.10.2004.
19. Чистая климатическая зона TRACKPORE (Иссл. центр прикл. ядерн. физики, Россия) - 2003 г. выпуска, стоимость - 748800 руб.
20. Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G2 30 S-TWIN (FEI, США) - 2005 г. выпуска, стоимость - 53300000 руб.
21. Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S в комплекте (Оксфорд дифракцон, Англия) - 2005 г. выпуска, стоимость - 11200000 руб.
22. Высокостабилизированный рентгеновский генератор в комплекте (3 шт) ISOVOLT 3003 (Германия) - 2005 г. выпуска, стоимость - 5500000 руб.