Уральский Центр коллективного пользования "Современные нанотехнологии"

Общие сведения
Уральский центр коллективного пользования «Современные нанотехнологии» Уральского государственного университета им. А.М. Горького (УЦКП СН УрГУ) берет свое начало от приказа ректора УрГУ от 04.07.2002 г. № 215 д/у, которым был создан УЦКП «Сканирующая зондовая микроскопия» (УЦКП СЗМ) на базе учебно-научной лаборатории СЗМ Научно-образовательного центра «Перспективные материалы». Впоследствии УЦКП СЗМ на основании решения Ученого Совета УрГУ (протокол № 1 от 29.01.2004 г.) был реорганизован в структурное подразделение и зарегистрирован в системе центров коллективного пользования научным оборудованием, созданной Министерством промышленности и науки Российской Федерации в 2004 г.
В 2007 году УрГУ стал победителем конкурса инновационных образовательных программ в рамках ПНП «Образование». Одной из задач программы было создание на базе существующего УЦКП СЗМ и вновь закупаемого оборудования Центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» со значительно большими исследовательскими и технологическими возможностями, который был создан приказом ректора от 29.12.2007 г. № 553 д/у и Положение о котором было утверждено Ученым Советом УрГУ 27 марта 2008 года.
На основе приобретенного в 2007 году оборудования 12 декабря 2007 года в УрГУ открыта первая очередь УЦКП СН УрГУ. Задача Центра – обеспечение образовательного процесса по направлению бакалавриата «Нанотехнология», третий набор по которому будет осуществлен в 2008 году, а также выполнение исследовательских задач преподавателей и ученых УрГУ, других вузов города, институтов Уральского отделения РАН, а также, на договорной основе, предприятий Свердловской области, имеющих наукоемкое производство.

Директор
Шур Владимир Яковлевич, д.ф.-м.н., профессор.
E-mail: vladimir.shur@usu.ru

Структура

1. УЦКП «Сканирующая зондовая микроскопия»
2. Лаборатория вакуумных покрытий и слоистых наноструктур
3. Лаборатория лазерных нанотехнологий
4. Лаборатория магниторезонансной спектроскопии
5. Лаборатория механических испытаний
6. Лаборатория механической обработки кристаллов
7. Лаборатория оптической микроскопии
8. Лаборатория оптоэлектроники и нанофотоники
9. Лаборатория получения и аттестации наноматериалов
10. Лаборатория прецизионных магнитных измерений
11. Лаборатория рентгеноструктурного анализа
12. Лаборатория реологических, структурных и термомеханических исследований
13. Лаборатория фотолитографии
14. Лаборатория электрофизических низкотемпературных измерений
15. Лаборатория элементного и молекулярного анализа
16. Лаборатория явлений переноса в наноструктурированных средах

Оказываемые услуги

     Уральский ЦКП «Сканирующая зондовая микроскопия»:

1. Исследование в контактном режиме атомно-силовой микроскопии
2. Исследование в полуконтактном режиме атомно-силовой микроскопии
3. Исследование в режиме магнитной силовой микроскопии
4. Измерение твердости материала
5. Исследование в режиме электростатической силовой микроскопии
6. Измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением и постороение трехмерных изображений рельефа поверхности
7. Измерение шероховатости поверхности
8. Измерение толщины покрытий
9. Визуализация трехмерного пространственного распределения оптических, фазовых и структурных неоднородностей
10. Визуализация биологических материалов на субклеточном уровне
11. Аттестация углеродных наноматериалов
12. Трехмерная литография в фотоактивных материалах
13. Визуализация и определение линейных размеров наночастиц, нанотрубок, зерен нанокристаллических материалов и других наноматериалов
14. Измерение пространственной неоднородности механических, оптических, магнитных, электрических и других свойств с наноразрешением
15. Визуализация магнитных и сегнетоэлектрических доменных структур
16. Измерения твердости и модуля упругости в режиме наноиндентирования
17. Исследование морфологии биологических объектов
18. Проведение токовой, силовой и оптической нанолитографии

     Лаборатория вакуумных покрытий и слоистых наноструктур:

1. Измерение профиля поверхности твердых объектов методом механической профилометрии

     Лаборатория магниторезонансной спектроскопии

1. Измерение спектров электронного парамагнитного резонанса
2. Измерение спектров двойного электронно-ядерного резонанса
3. Измерение спектров ферромагнитного резонанса

     Лаборатория механических испытаний:

1. Испытания на разрыв для определения предела прочности, предела текучести, предела пропорциональности и коэффициента упрочнения материала

     Лаборатория механической обработки кристаллов:

1. Прецизионная резка твердых веществ
2. Шлифовка и высококачественная механическая и химико-механическая полировка

     Лаборатория оптической микроскопии:

1. Измерения на оптическом микроскопе
2. Измерения на оптическом профилометре
3. Визуализация кинетики и статики объектов в проходящем, отраженном и поляризованном свете в режимах светлого и темного поля в широком интервале температур
4. Высокоскоростная видеосъемка высокого разрешения
5. Обработка изображений, устранение дефектов, определение геометрических и статистических параметров
6. Измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением и постороение трехмерных изображений рельефа поверхности
7. Измерение шероховатости поверхности
8. Измерение толщины покрытий

     Лаборатория оптоэлектроники и нанофотоники:

1. Исследование оптических свойств материалов
2. Измерение основных характеристик (мощности, энергии и профиля пучка) источников лазерного излучения
3. Тестирование элементов оптоэлектроники и нанофотоники с использованием лазерного излучения средней и высокой мощности в видимом, ИК и УФ диапазоне

     Лаборатория получения и аттестации наноматериалов:

1. Измерения линейного расширения в зависимости от температуры при контролируемом усилии
2. Определение температур стеклования, текучести и плавления
3. Измерения линейного термического расширения твердых и жидких порошков, паст и керамических волокон

     Лаборатория прецизионных магнитных измерений:

1. Измерение проводимости материалов, электролит-электродных структур и полупроводниковых гетероструктур в широком диапазоне частот, величин проводимости, температур и типов атмосфер

     Лаборатория рентгеноструктурного анализа:

1. Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ для качественного и количественного определения фазового состава, кристаллической структуры и размера кристаллитов в широком интервале температур
2. Измерение внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки
3. Исследование структурных фазовых превращений

     Лаборатория реологических, структурных и термомеханических исследований:

1. Комплексный анализ дисперсии нано- и субмикронных частиц в растворах
2. Построение распределений частиц по размерам
3. Исследование процесса агрегации и агломерации
4. Измерение проводимости растворов
5. Адсорбционная порометрия - комплексный анализ дисперсности наноматериалов в сухом состоянии
6. Адсорбционная порометрия - измерение суммарного объема и поверхности микро- и мезопор
7. Адсорбционная порометрия - определение удельной поверхности нанопорошков
8. Адсорбционная порометрия - построение распределений пор по размерам
9. Одновременное исследование реологических свойств (вязкости, напряжения и скорости сдвига) и структуры деформируемых систем
10. Определение реологических параметров в широком интервале температур

     Лаборатория фотолитографии:

1. Получение сверхчистой деионизованной воды аналитического качества
2. Изготовление поверхностных микроструктур методом контактной литографии
3. Формирование рисунка в фоторезисте на поверхности пластины
4. Вакуумное нанесение тонких пленок металлов и диэлектриков
5. Реактивно-ионное травление
6. Разработка и заказ фотошаблонов

     Лаборатория электрофизических низкотемпературных измерений:

1. Измерение магнитной восприимчивости наноматериалов в переменных магнитных полях различной частоты в широком диапазоне температур и постоянных магнитных полей
2. Измерение электропроводности и постоянной Холла в широких диапазонах частот, температур и постоянных магнитных полей четырех-контактным методом
3. Измерение температурной зависимости теплоемкости наноструктурных материалов релаксационным методом

     Лаборатория элементного и молекулярного анализа:

1. Определение качественного и количественного элементного состава материалов
2. Определение элементного состава проб, включая водные и неводные растворы, с одновременным определением до 40 элементов в широком интервале концентраций
3. Оптическая спектроскопия - измерение и анализ спектров отражения и пропускания в видимой, ближней и дальней ИК и УФ областях спектра
4. Оптическая спектроскопия - количественный химический анализ по спектрам флюоресценции и поглощения
5. Оптическая спектроскопия - измерение спектров комбинационного рассеяния с высоким пространственным и спектральным разрешением
6. Оптическая спектроскопия - идентификация полос поглощения в ИК спектре, относящихся к определенным функциональным группам анализируемых органических и полимерных материалов

     Лаборатория явлений переноса в наноструктурированных средах:

1. Анализ сложных смесей газов и жидкостей с идентификацией и количественным определением компонентов
2. Качественный и количественный анализ газообразных продуктов разложения неорганических веществ
3. Дифференциальная сканирующая калориметрия, дифференциальный термический анализ и термогравиметрия, в том числе синхронно с масс-спектрометрическим анализом в широком интервале температур

Аттестованные методики

1. МВИ «Методика выполнения измерений стабильности фазовых состояний, усадочных эффектов, теплового и изотермического расширения наноматериалов и изделий на их основе в широком диапазоне температур в различных газовых средах методом дилатометрии»
2. МВИ «Методика выполнения измерений термодинамической стабильности и содержания адсорбатов в наноматериалах и изделиях на их основе в широком диапазоне температур в различных газовых средах методом термогравиметрического анализа»
3. МВИ «Методика выполнения измерений параметров функции распределения по размерам частиц в суспензиях методом динамического рассеяния света»
4. МВИ «Методика выполнения измерений температуры стеклования, плавления, коэффициента термического расширения полимерных материалов методом термомеханического анализа»
5. МВИ «Методика выполнения измерений удельной поверхности, размеров пор, объема пор твердых материалов методом статической сорбции»
6. МВИ «Методика выполнения измерений термодинамических  параметров взаимодействия в полимерсодержащих системах методом статической сорбции»
7. МВИ «Методика выполнения измерений вязкости и напряжения сдвига в широком интервале скоростей сдвига методом ротационной вискозиметрии»
8. МВИ «Методика выполнения измерений массовых долей примесей железа и меди в наноматериалах атомно-эмиссионным анализом с индуктивно-связанной плазмой»
9. МВИ «Методика выполнения измерений массовых долей примесей свинца, сурьмы в медьсодержащих наноматериалах атомно-абсорбционным анализом с электротермической атомизацией»
10. МВИ «Методика идентификации состава мономолекулярных слоев химических соединений на поверхности твердых тел методом ИК - Фурье спектроскопии»
11. МВИ «Методика выполнения измерений состава адсорбатов в керамических наноструктурных материалах и оксидных нанопорошках методом газовой хромато масс-спектрометрии»
12. МВИ «Методика выполнения измерений фазового состава наноразмерных объектов и наноструктурных материалов методами рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа»
13. МВИ «Методика выполнения измерений магнитной восприимчивости наноматериалов в переменных магнитных полях различной частоты в широком диапазоне температур и постоянных магнитных полей»
14. МВИ «Методика выполнения измерений электропроводности и постоянной Холла в широких диапазонах частот, температур и постоянных магнитных полей четырех-контактным методом»
15. МВИ «Методика выполнения измерений температурной зависимости теплоемкости наноструктурных материалов релаксационным методом»
16. МВИ «Методика выполнения измерений профиля поверхности твердых объектов методом механической профилометрии»
17. МВИ «Методика выполнения измерений магнитных потерь, коэрцитивной силы, магнитной проницаемости в образцах магнитомягких наноматериалов замкнутой формы»
18. МВИ «Методика выполнения измерений магнитного момента наноструктурных материалов магнитометрическим методом»
19. МВИ «Методика выполнения измерений магнитных характеристик магнитотвердых материалов в замкнутой магнитной цепи»
20. МВИ «Методика выполнения измерений величины шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии»
21. МВИ «Методика выполнения измерений величины шероховатости поверхности методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)»
22. МВИ «Методика выполнения измерений толщины нанопокрытий методом атомно-силовой микроскопии»
23. МВИ «Методика выполнения измерений толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)»
24. МВИ «Методика выполнения измерений размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии»
25. МВИ «Методика выполнения измерений геометрических параметров периодических структур сегнетоэлектрических доменов методами сканирующей зондовой микроскопии»
26. МВИ «Методика выполнения измерений g-фактора парамагнитного центра методом электронного парамагнитного резонанса»
27. МВИ «Методика выполнения измерений концентрации парамагнитных центров методом электронного парамагнитного резонанса»
28. МВИ массовой доли меди, железа, висмута, цинка в свинцовых сплавах методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой.

Оборудование

1. Атомно-силовой микроскоп Explorer, ThermoMicroscopes, США, 2001
2. Учебный класс сканирующей зондовой микроскопии Nanoeducator-10 с зондовой нанолабораторией NTEGRA-Prima, ЗАО «НТ-МДТ», Россия, 2007
3. Зондовая нанолабораторияNTEGRA-Aura, ЗАО «НТ-МДТ», Россия, 2007
4. Зондовая нанолабораторияNTEGRA-Therma, ЗАО «НТ-МДТ», Россия, 2007
5. Зондовая нанолаборатория NTEGRA-Spectra, ЗАО «НТ-МДТ», Россия, 2007
6. Механический профилометр Dektak 150, Veeco Instruments Inc, США, 2007
7. Оптический профилометр Wyko NT 1100, Veeco Instruments Inc, США, 2007
8. Оптический микроскоп Olympus BX-51, Olympus, Япония, 2007 – 2 шт.
9. Оптический микроскоп Olympus BX-41, Olympus, Япония, 2007– 2 шт.
10. Система для высокоскоростной видеосъемки FC13, FastVision, США, 2007
11. Термокриокамера Linkam THMSE 600, Linkam, Великобритания, 2005
12. Комплекс регистрации и обработки изображений SIAMS Photolab, СИАМС, Россия, 2007
13. Анализатор гранулометрического состава SALD 7101, Shimadzu, Япония, 2007
14. Анализатор дисперсий 90BI-Zeta Plus, Brookhaven Instruments Corporation, США, 2007
15. Анализатор Zetasizer, Malvern, Великобритания, 2009
16. Анализатор удельной поверхности TriStar 3000, Micromeritics, США, 2007
17. Анализатор удельной поверхности Sorbi N.4.1, ЗАО «Мета», Россия, 2007
18. Термогравиметрический анализатор PYRIS 1 TGA, Perkin-Elmer, США, 2008
19. Газовый хроматограф/Квадрупольный масс-спектрометр GC/MS 600 D, Perkin-Elmer, США, 2008
20. Газовый хроматограф Thermo Focus GC, Thermo Scientific, США, 2008
21. Жидкостный хроматограф LC-20, Shimadzu, Япония, 2008
22. Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/QMS 403 C Aëolos, Netzsh, Германия, 2007
23. Термоанализатор STA 409 PC Luxx, Netzsh, Германия, 2007 - 2 шт.
24. Термомеханический анализатор TMA 202/1/G, Netzsch – Geratebau GmbH, Германия, 2007
25. Дилатометр DIL 402C, Netzsh, Германия, 2007
26. Вискозиметр ротационный Rheotest RN 4.1, Rheotest Messgerate Medingen GmbH, Германия, 2007
27. Оптический реометр Haake Mars, Thermo electron corporation, Германия, 2007
28. Электромеханическая испытательная машина для исследования механических свойств материалов AG-50kNXD, Shimadzu, Япония, 2008 – 2 шт.
29. Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно связанной плазмой iCAP 6500 Duo, Thermo Scientific, США, 2007
30. Атомно-абсорбционный спектрометр Solaar 6M, Thermo Scientific, США, 2007
31. Исследовательский комплекс на базе ИК Фурье спектрометра Nicolet 6700, Thermo Scientific, США, 2007
32. ИК-Фурье спектрометр, Nicolet 6700, Thermo Scientific, США, 2007
33. Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама, ООО «Люмэкс», Россия, 2007
34. Система капиллярного электрофореза Капель 105 М, ООО «Люмэкс», Россия, 2007
35. Рентгеновский дифрактометр D8 Advance, Bruker, Германия, 2007
36. Измерительный комплекс DMS-1000, Dryogenic, Англия, 2008
37. Спектрометр электронного парамагнитного и двойного электронно-ядерного резонансов EMX Plus, Bruker, Германия, 2007
38. СКВИД-магнитометр MPMS XL7, Quantum Design, США, 2008
39. Магнитометрический комплекс высшей точности УКМП-0.05-100, ЗАО «НИИ СТТ», Россия, 2007
40. Импедансметр Z-500PX, ООО «Элинс», Россия, 2008
41. Импедансметр Z-500PX с усилителем мощности AX-500PL, ООО «Элинс», Россия, 2008
42. Импедансметр Z-3000X, ООО «Элинс», Россия, 2008
43. Импульсный потенциостат P-30I, ООО «Элинс», Россия, 2008 - 2 шт.
44. Электронные весы Sartorius, Sartorius,2009
45. Электронные весы ALC-210d4, Acculab, США, 2007 - 5 шт.
46. Импульсный твердотельный лазер с гармониками Brilliant, Quantel, Франция, 2007
47. Комплект оборудования для измерения параметров лазерного излучения LaserStar, BeamStar FX50, Ophir, Израиль, 2007
48. Лазерная система для обработки материалов VL-300/40, ЦЛТ, Россия, 2008
49. Лазерная система для обработки материалов Fmark-20, ЦЛТ, Россия, 2008
50. Чистое производственное помещение класса ГОСТ ИСО5, СК РОСТ, Россия
51. Система подготовки сверхчистой воды Elix 10, Millipore, Франция, 2007
52. Система контроля качества фотолитографии BX-51, Olympus, Япония, 2007
53. Лабораторная центрифуга Sawatec SM180-HP250HDMS, Sawatec Solutions, Лихтенштейн, 2008
54. Установка совмещения и экспонирования SUSS MJB4, Suss MicroTec, Германия, 2008
55. Установка жидкостной очистки пластин OPTIwet St30, SSE, Германия, 2008
56. Установка реактивно-ионного травления Plasmalab 80 plus RIE, Oxford Instruments, Великобритания, 2008
57. Комбинированная установка вакуумного напыления Auto 500 Edwards, BOC Edw., Великобритания, 2008
58. Установка магнетронного распыления ATC Orion 8 UHV, AJA Int. Inc., США, 2008
59. Алмазная дисковая и проволочная пила Model 15, Logitech, Великобритания, 2007
60. Станок для прецизионной шлифовки и полировки PM5, Logitech, Великобритания, 2007
61. Планетарная мельница Pulverisette 7, Fritsch, Германия, 2007 - 3 шт.

Организации-пользователи оборудованием в 2009 году

1. ООО Транспортная компания «УРАЛ»
2. Федеральное государственное унитарное предприятие «НПО автоматики»
3. ООО НПК «Магнитные композиционные материалы»
4. ООО КБ «ЧКЗ-Югсон»
5. ФГУП «Всероссийский НИИ неорганических материалов им. академика А.А. Бочвара»
6. ООО «Лабфер»
7. ГК «Российская корпорация нанотехнологий»
8. ООО «Композит СТ»
9. МА «Большой Урал»
10. ООО «УРАЛИНТЕХ»
11. ФГУН «Екатеринбургский медицинский научный центр профилактики и охраны здоровья рабочих промпредприятий»
12. ОАО «НПК «Уралвагонзавод»»
13. ФГУП «Уральский научно-исследовательский химический институт с Опытным заводом»
14. ООО «ПОЗ Прогресс»
15. ОАО «Уральский электохимический комбинат»
16. ФГУП «Уральский научно-исследовательский институт метрологии»
17. ООО «Тормо»
18. Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный экономический университет»
19. ИИиА УрО РАН, археологическая экспедиция
20. ИОС УрО РАН
21. ИЭФ УрО РАН
22. ИХТТ УрО РАН
23. ЗАО «Энергомаш (Екатеринбург)-Уралэлектротяжмаш»
24. ЗАО «Научно-производственный комплекс «Вторичные источники питания»»
25. ООО НПП «Технология»
26. ООО «Уралредмет»
27. ООО «Милант»
28. ООО «Уральский завод гражданской авиации»
29. ФГУП «Уралэлектромеханический завод»
30. ООО «НПП «Лантан-1»

Контактная информация
УЦКП «Современные нанотехнологии» ГОУ ВПО «Уральский государственный университет им. А.М. Горького»
Юридический адрес – 620083 г. Екатеринбург, пр. Ленина, 51
Фактический адрес – г. Екатеринбург, ул. Куйбышева, 48а
Тел./факс: (343)261-74-36
Сайт: http://www.nano.usu.ru
E-mail: vladimir.shur@usu.ru