Переносной прецизионный рентгеновский компаратор – дифрактометр
Предназначен |
|||||||||||||||||||||||||||
|
для определения отклонения плоскости среза монокристаллических пластин от заданной кристаллографической плоскости. |
||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
Области применения |
|||||||||||||||||||||||||||
|
1. Электронная и полупроводниковая промышленность. |
||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
Особенности |
|||||||||||||||||||||||||||
|
- Миниатюрность Основным элементом в рентгеновской схеме малогабаритного рентгеновского дифрактометра является фокусирующая капиллярная линза Кумахова с заданным углом ? сходимости рентгеновского излучения ~ 1-3°, позволяющая с помощью линейно - координатного детектора с окном 25-50мм определять технологическую ориентацию срезов монокристаллических пластин по сравнению с эталоном.
Линзы Кумахова обеспечивают нужные углы сходимости первичных пучков, обеспечивая безкинематическую серию съемок монокристаллов в рентгеновском дифрактометре. Смена углов дифракции производится только при переходе к другим монокристаллам иного состава. Требования к углу сходимости α рентгеновского пучка от полной линзы Кумахова определяется максимально допустимым отклонением угла ориентации кристаллографических плоскостей jmax от заданного угла j (α >2 jmax). Использование сходящегося на образце рентгеновского пучка позволяет избавиться от вращения монокристаллической пластины с целью поиска максимума дифракционного отражения. Точность определения измеряемого угла отклонения ±5". Использование полной фокусирующей линзы (2) для формирования рентгеновского пучка с определенным углом сходимости ? рентгеновских лучей позволяет не только значительно упростить оптическую схему рентгеновского дифрактометра для определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей монокристалла (5)Δψ от заданного угла, но и значительно улучшить воспроизводимость определения Δψ, уменьшить габариты прибора и мощность рентгеновской трубки(1). |
||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||
Принцип действия рентгеновского компаратора - дифрактометра |
|||||||||||||||||||||||||||
|
Основан на том, что излучение, генерируемоерентгеновской трубкой, сколлимированное поликапиллярной линзой, дифрагирует на кристаллической решетке облучаемого материала.
Ширина пика дифракции зависит от качества обработки монокристаллической поверхности пластины. Потому одновременно с идентификацией ориентации пластины в дифрактометре, возможно также оценить качество поверхности отражения после обработки. Рентгеновский дифрактометр снабжен программным обеспечением для автоматического определения угла отклонения исследуемых монокристаллических пластин. |
||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
Технические характеристики |
|||||||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
Рентгеновский компаратор - дифрактометр состоит из: |
|||||||||||||||||||||||||||
|
- рентгеновской трубки в защитном кожухе,
|
||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
Для публикации на федеральном интернет-портале "Нанотехнологии и наноматериалы" материал предоставлен ООО Институт Рентгеновской Оптики |
|||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
| Версия для печати Дата обновления: 20:48 15.06.2010 | Обсудить на открытом форуме Обсудить на форуме участников ННС |



